X-射线荧光能谱仪-上海比因光电科技有限公司

可以获得高级的非破坏性元素分析，并且可以灵活地在各种各样的示例类型和形状上工作。样品制备非常少。不需要涂层。Orbis Micro-XRF分析仪结合了快速、同步的多元素x射线检测，灵敏度分析从百万分之百到100%。用户可以对小样本进行元素分析，例如粒子、碎片、夹杂物，或更大样本的自动多点和成像分析，所有的好处和简单的X射线荧光能谱仪。

采用聚焦X射线照射，光路系统采用正置式，可在大气压力或低真空环境下检测样品。该仪器可进行视频图象采集和图象拼接，微区及整体成分的定性定量分析，以及线、面元素的分布分析，检测极限为ppm级。

可以在空气或低真空条件下测量从Na到Bk的元素。由于x射线的穿透能力和较大的光斑尺寸，Orbis分析仪比扫描电子显微镜更适合于具有更大规模特征的样品。EDAX强大的，易于使用的视觉软件提供了精确的元素分析。

主要特点

样品范围宽:液体,磁性,绝缘体,少量粉末等。
样品尺寸大：块状样品可达270x270x100mm（大样品室型则更大）。
焦点小，可进行点、线、面的分布分析。
能量利用率高，X光管功率小，维护简便。
无损检测，使用方便，自动化程度高。
工作距离长。便于进行非平坦样品的分析。
可应用于材料研究、生物医学、司法鉴定、文物保护与鉴定、环境保护等多领域。
丰富的软件不仅满足定性、定量和元素分布分析，还可以进行涂镀层厚度、合金分析、检索与分类分析以及RoHS、WEEE的检测等。

1.样品范围宽:液体,磁性,绝缘体,少量粉末等。

2.样品尺寸大：块状样品可达270x270x100mm（大样品室型则

更大）。

3.焦点小，可进行点、线、面的分布分析。

4.能量利用率高，X光管功率小，维护简便。

5.无损检测，使用方便，自动化程度高。

6.工作距离长。便于进行非平坦样品的分析。

7.可应用于材料研究、生物医学、司法鉴定、文物保护与鉴

定、环境保护等多领域。

8.丰富的软件不仅满足定性、定量和元素分布分析，还可以进

行涂镀层厚度、合金分析、检索与分类分析以及RoHS、

WEEE的检测等。

1.微聚焦X光管上限功率50kV,50W, 1.0mA

2.试样上X光聚焦点直径300um、100um、30um、

20um及连续可变

3.自动发射束滤波系统（包括全开、关闭和6个滤

片，共8个位置）

4.10x及100x(300x)彩色CCD摄像头

5.样品室尺寸标准型:直径360mm,高310mm（大样

品室型为700x700x700mm）

6.自动样品台行程100x100x100mm(大样品室型为

300x300x100mm）

7.标准精度计算机控制的XYZ样品台

8.样品台载重量: 5Kg,10Kg(大样品室)

9.可以在真空下或大气压下进行检测

10.可以进行单点或给定多点的自动分析

11.可以进行单视域或多视域组合的元素分布分析

（面扫描与线扫描）

12.可以进行超越单视域的元素分布分析（在组合

视域中选择单幅元素分布分析范围）

刑事取证、工业质量控制和无损检测，以及材料、电子和地质样品分析。

产品中心

X-射线荧光能谱仪